IEEE 1149.1-2001 测试存取口及边界扫描结构

作者:标准资料网 时间:2024-05-10 18:02:58  浏览:8584   来源:标准资料网

【英文标准名称】:IEEEStandardTestAccessPortandBoundary-ScanArchitecture
【原文标准名称】:测试存取口及边界扫描结构
【标准号】:IEEE1149.1-2001
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2001-06-14
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;试验;计算机硬件;印制电路;数据处理;开关电路;集成电路;电子设备及元件;定义
【英文主题词】:Computerhardware;Dataprocessing;Definition;Definitions;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Printedcircuits;Switchingcircuits;Testing
【摘要】:Thisstandarddefinestestlogicthatcanbeincludedinanintegratedcircuittoprovidestandardizedapproachesto—testingtheinterconnectionsbetweenintegratedcircuitsoncetheyhavebeenassembledontoaprintedcircuitboardorothersubstrate;—testingtheintegratedcircuititself;and—observingormodifyingcircuitactivityduringthecomponent'snormaloperation.Thetestlogicconsistsofaboundary-scanregisterandotherbuildingblocksandisaccessedthroughaTestAccessPort(TAP).
【中国标准分类号】:L30
【国际标准分类号】:31_180;31_200
【页数】:208P.;A4
【正文语种】:英语